脑皮质畸形体细胞突变

虽然我们越来越意识到体细胞突变在遗传疾病中的作用，但目前还没有系统地评估体细胞突变在神经发育疾病中的发生率，并采用最佳的技术方法来检测体细胞嵌合。

波士顿儿童医院的学者进行了一项研究，认为靶向测序可以有效地检测脑畸形患者的体细胞突变，最近发表在文章中NEJM杂志上。

使用与脑畸形相关的已知候选基因的定制面板，我们对158名脑畸形患者的白细胞来源DNA样本采用靶向高覆盖率序列(深度，≥200×)。脑畸形包括双皮质综合征(皮质下带异位症，30名患者)、多小脑回(20名患者)、脑室旁结节异位症(61名患者)和巨脑回。我们使用它Sanger对于不等读写深度的变异体，亚克隆后再进行克隆测序。

结果表明，在27名患者中发现了被证实的随机突变；8名患者是体细胞突变，主要是双皮质综合征(其中DCX和LIS1发现突变，脑室旁结节异位(FLNA)、巨脑回(TUBB2B)的患者中。

在检测到的体细胞突变中，传统上不能使用5个突变Sanger亚克隆和亚克隆可用于测序DNA测序检测。并在巨脑回归患者中发现候选基因DYNC1H1,KIF5C与其他驱动蛋白基因有潜在的随机突变。

靶向测序可视为检测脑畸形患者体细胞突变的有力武器。高覆盖测序面板是评估神经精神疾病体细胞突变的重要手段。

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